感應耦合電漿質譜儀
最後更新日期 :
2020-02-27
一、用途說明:樣本經由霧化器將之霧化成氣膠,而後進入霧化腔進行氣膠顆粒篩選,再導入高溫氬氣電漿中,經過去溶劑、蒸發、分解、原子化、離子化等一連串過程,再藉由取樣器與削減器萃取離子進入真空系統、質量分析器,最後由偵測器進行濃度的測定。
二、規格明細:
- 質量分析器-雙曲面柱之四極柱。
- 質量分析範圍-至少包含 2-260 amu。
- 去除多原子離子干擾裝置-於質量分析器前具備八極杆碰撞/反應池。
- 偵測極限-ppt level。
- 檢測器-採用直角偏軸檢測器系統Orthogonal detector system(ODS),可徹底消除ICPMS內部碰撞/反應池以及四級柱產生之中性粒子,達到更低之背景及更大之線性範圍。
三、收費標準:
- 詳情請洽聯絡人。
- 送測樣品量大另有折扣。
四、聯絡方式:
- 聯絡人-技士呂佩珊小姐
- 聯絡電話-(02)2908-9899分機4651
- 電子信箱-shanr_999@mail.mcut.edu.tw
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