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感應耦合電漿質譜儀 

最後更新日期 : 2020-02-27

一、用途說明:樣本經由霧化器將之霧化成氣膠,而後進入霧化腔進行氣膠顆粒篩選,再導入高溫氬氣電漿中,經過去溶劑、蒸發、分解、原子化、離子化等一連串過程,再藉由取樣器與削減器萃取離子進入真空系統、質量分析器,最後由偵測器進行濃度的測定。

二、規格明細:

  • 質量分析器-雙曲面柱之四極柱。
  • 質量分析範圍-至少包含 2-260 amu。
  • 去除多原子離子干擾裝置-於質量分析器前具備八極杆碰撞/反應池。
  • 偵測極限-ppt level。
  • 檢測器-採用直角偏軸檢測器系統Orthogonal detector system(ODS),可徹底消除ICPMS內部碰撞/反應池以及四級柱產生之中性粒子,達到更低之背景及更大之線性範圍。

三、收費標準:

  • 詳情請洽聯絡人。
  • 送測樣品量大另有折扣。

四、聯絡方式:

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